近日，國工智能新添國家知識產權局頒發(fā)的一項發(fā)明專利證書“基于數(shù)據(jù)挖掘的液晶材料配方分析方法及裝置”。

發(fā)明專利《基于數(shù)據(jù)挖掘的液晶材料配方分析方法及裝置》

      本發(fā)明涉及一種基于數(shù)據(jù)挖掘的液晶材料配方分析方法及裝置，屬于配方分析技術領域。目前，液晶材料在顯示方面體現(xiàn)出來了巨大的前景和市場。手機屏幕到電視屏幕都幾乎被液晶材料占據(jù)。但對于液晶材料來說，單一液晶材料無法滿足人們對于性質等的需求，因此需要把很多種液晶材料組合起來才能達到特定的性質。

      現(xiàn)階段，在混晶的設計策略方面，常見的方式主要是通過不同組分的混合來達到最后性質的要求，這里面需要把不同的液晶材料通過一定的步驟進行混合，并且在設計混晶性質指標之前需要對單體的性質全面了解。在實際的應用過程中，單體的性質測量往往跟單體的形態(tài)，測試環(huán)境，測試設備以及母體溶液組分有關。為了確定單體在混晶制備過程中的作用，往往需要對單體的性質進行確定，但有的性質不好直接測，所以需要對單體的性質進行預測，以保證在后續(xù)的配方使用中能夠較為方便的利用。為此，本發(fā)明提供一種基于數(shù)據(jù)挖掘的液晶材料配方分析方法及裝置，解決傳統(tǒng)技術單體性質預測的準確性差，難以用于進行有效的混晶配方推薦的問題。

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